探頭性能校準是超聲波探傷系統(tǒng)校準的核心環(huán)節(jié)，直接影響缺陷檢測的靈敏度、定位精度和定量準確性，需依據(jù)《無損檢測超聲檢驗探頭及其聲場的表征》、《超聲波探傷用探頭性能測試方法》等標準執(zhí)行。校準內容主要包括探頭入射點、K值（折射角）、靈敏度余量、分辨率、聲軸偏斜等關鍵指標，以下是各指標的具體校準步驟、操作要點及判定標準。
一、探頭入射點校準（確定探頭聲束發(fā)射中心）
入射點是指探頭聲束軸線與探測面的交點，是缺陷定位的基準點，校準步驟如下：
準備工作：選取Ⅱ型校準試板（CSK-ⅡA）或專用入射點校準試板，將試板置于平整的工作臺上，確保探測面清潔、無油污和銹蝕；連接探頭與探傷儀，開啟設備，將探傷儀設置為單探頭探傷模式，調節(jié)增益使顯示屏出現(xiàn)穩(wěn)定波形。
定位與標記：手持探頭，將探頭前端緊貼試板邊緣，緩慢向試板中心移動，同時觀察顯示屏上的試板端面反射波（始波后的第一個大反射波）。當端面反射波達到最高、最穩(wěn)定時，停止移動探頭，此時探頭前端與試板邊緣的接觸點即為入射點的大致位置。
精確校準：用記號筆在探頭外殼上標記出與試板邊緣對齊的位置，然后將探頭沿試板邊緣前后微調，反復確認端面反射波的峰值位置，最終確定入射點的精確位置，并在探頭外殼上做好永久標記（如用鋼針刻線）。
驗證：將探頭入射點對準試板上已知深度的平底孔，測量缺陷波的水平距離，與理論值對比，誤差≤1mm即為合格。
二、探頭K值（折射角）校準（適用斜探頭）
K值是斜探頭聲束折射角的正切值（K=tanβ，β為折射角），直接影響缺陷的定位精度，校準步驟如下：
試板選擇：選用Ⅱ型校準試板（CSK-ⅡA）或Ⅲ型校準試板（CSK-ⅢA），試板上需有不同深度的橫孔或槽，用于聲束定位。
參數(shù)設置：將探傷儀的水平刻度（時基）調整為“深度”或“水平距離”顯示模式，根據(jù)試板厚度和探頭預估K值，調節(jié)掃描范圍，確保試板上的橫孔反射波能完整顯示在顯示屏上。
校準操作：
將探頭置于試板探測面，移動探頭使聲束對準試板上的橫孔（如深度為d1的橫孔），調節(jié)增益使橫孔反射波達到80%滿屏高度，記錄此時顯示屏上的水平距離L1。
移動探頭對準另一深度的橫孔（如深度為d2的橫孔），重復上述操作，記錄水平距離L2。
根據(jù)公式計算K值：K=(L2-L1)/(d2-d1)，取多次測量的平均值作為探頭的實際K值。
判定標準：實際K值與標稱K值的誤差≤±0.1（或折射角誤差≤±2°）即為合格，若誤差超出范圍，需通過探傷儀的K值修正功能進行調整，或更換探頭。
三、探頭靈敏度余量校準（評估探測能力）
靈敏度余量是指探頭在檢測到規(guī)定反射體（如Φ2mm平底孔）時，探傷儀剩余的增益能力，反映探頭的探測靈敏度和抗干擾能力，校準步驟如下：
試板與參數(shù)設置：選用Ⅱ型校準試板，將探頭置于試板探測面，對準試板上的Φ2mm平底孔（或標準規(guī)定的反射體）；將探傷儀的增益調至最小，抑制調至0，掃描范圍調整為覆蓋試板厚度。
基準波形調節(jié)：緩慢增加增益，直至平底孔反射波達到80%滿屏高度，此時的增益值記為基準增益G0。
靈敏度余量計算：繼續(xù)增加增益，直至顯示屏上出現(xiàn)噪聲滿屏（或達到探傷儀最大增益），此時的增益值記為Gmax；靈敏度余量ΔG=Gmax-G0。
判定標準：一般工業(yè)用超聲波探頭的靈敏度余量≥30dB，部分探傷探頭（如聚焦探頭）≥40dB，若余量不足，說明探頭性能下降，需更換或維修。
四、探頭分辨率校準（區(qū)分相鄰缺陷的能力）
分辨率分為縱向分辨率（區(qū)分同一聲軸上相鄰缺陷的能力）和橫向分辨率（區(qū)分不同聲軸上相鄰缺陷的能力），常用縱向分辨率校準，步驟如下：
試板選擇：選用分辨率校準試板（如Ⅱ型試板上的相鄰平底孔，或專用分辨率試板），試板上有兩個間距較小的平底孔（如間距2mm）。
校準操作：將探頭置于試板探測面，對準兩個平底孔的中心位置，調節(jié)增益使兩個平底孔的反射波均達到80%滿屏高度，觀察顯示屏上兩個波形的分離程度。
判定標準：若兩個波形的波谷低于波峰的1/2（即分離度≥50%），則判定分辨率合格；若兩個波形重疊，無法區(qū)分，則說明探頭分辨率不足，不適合用于檢測細小相鄰缺陷。
五、聲軸偏斜校準（評估聲束的同軸度）
聲軸偏斜是指探頭實際聲束軸線與探頭幾何軸線的偏差，會導致缺陷定位偏差，校準步驟如下：
試板與裝置：選用聲軸偏斜校準試板（如帶有平行橫槽的試板），或使用兩個平行的反射面（如兩塊平行放置的鋼板）。
校準操作：將探頭置于試板探測面，沿試板緩慢移動探頭，觀察反射波的高度變化；若聲軸無偏斜，反射波高度穩(wěn)定；若聲軸偏斜，反射波高度會隨探頭移動出現(xiàn)明顯波動。
量化評估：通過測量反射波高度的最大波動值，計算聲軸偏斜角度，一般要求偏斜角度≤2°，否則會影響缺陷定位精度，需更換探頭。
六、校準注意事項與周期
環(huán)境要求：校準應在室溫（15℃–35℃）、無強電磁干擾、無振動的環(huán)境中進行，避免溫度變化導致探頭性能波動。
耦合劑使用：校準過程中需使用專用耦合劑（如甘油、機油），確保探頭與試板之間耦合良好，無空氣間隙，避免耦合不良影響校準結果。
校準周期：新探頭使用前必須校準；在用探頭每6個月校準一次；若探頭出現(xiàn)磕碰、損壞或檢測結果異常，需立即重新校準。
記錄與存檔：校準完成后，需填寫《超聲波探頭校準記錄》，記錄探頭型號、校準日期、各項指標的測量值、判定結果等信息，存檔備查。
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